LW200-4JT 正置金相顯微鏡

產(chǎn)品介紹

一、產(chǎn)品介紹

LW200-4JT適用于廠礦企業(yè)、高等院校及科研機構作金相、巖相、礦相等材料表面組織結構的薄片觀察檢測。也可用于電子工業(yè)部門作晶體，芯片及新材料等方面的檢驗與分析。

*的100X干鏡可媲美國外同類產(chǎn)品,為國內市場配置zui的產(chǎn)品.

二、主要技術參數(shù)：

1．三目鏡筒：傾斜45 °可旋轉360 °，瞳距55mm-75mm

             視度±5°輔助倍數(shù)1.25X

2．平場目鏡：高眼點10X/20mm可選配市場地直徑24mm

3．長距平場物鏡: PLL4X/37.5，10X/7.31，40X/0.63，80X/0.96

4．總放大倍數(shù)：40X-800X

5．載物臺：尺寸160mm*140mm
 移動范圍 75*50mm

6．聚焦鏡：可調式阿貝聚焦鏡NA1.25 
孔鏡光欄  濾色片座

7．調 焦 ：粗微動同軸  升降范圍25mm 
微動格值0.002mm 

8.暗場裝置

9．光 源：柯勒照明  正交偏振裝置 濾色片座           
可調鹵素燈 12V/50W   

可選配件:300萬數(shù)字彩色攝像頭,金相分析軟件

         佳能數(shù)碼相機  100X（干鏡）