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技術文章

環(huán)境試驗箱的校準方法

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  我們需要根據(jù)實際情況選擇其中一種適合的方法對環(huán)境試驗箱進行校準,下面我們就針對環(huán)境試驗箱常用的這三種不同的校準方法的優(yōu)缺點進行介紹:
 
  1.主要是在零負載的情況下進行校準。相比較來說,這種方法的主要優(yōu)點為:能夠對環(huán)境箱的整個工作區(qū)域進行校準,能夠對環(huán)境試驗箱的適用性做出有效的評估。而且在更換測試樣品之后,不需要重新進行校準。
 
  這種校準方法的缺點就是我們無法及時得知測試樣品會對環(huán)境試驗箱的性能產生怎樣的影響。
 
  2.是在有負載的情況下進行校準。主要包括:其能夠較為準確的檢測出所用測試樣品對環(huán)境試驗箱性能的影響,而且便于得到測試樣品關鍵部位的環(huán)境試驗的詳細信息。當然,這種方法也有缺點,比如在更換測試樣品之后需要重新進行校準。
 
  3.一般的在使用環(huán)境試驗箱的過程中,進行實時測量。這種方法除了具有第二種方法的優(yōu)勢之外,還能夠得出測試樣品在環(huán)境試驗過程中全面的環(huán)境參數(shù),這種方法一般是在對環(huán)境要求較高的情況喜愛使用。
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